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b1787f033b
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2 years ago | |
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| CNN_Wafer.ipynb | 2 years ago | |
| readme.md | 2 years ago | |
readme.md
지능화 캡스톤 프로젝트 #1 - WDI-CNN
(Wafer Map 데이터를 9종류의 Class로 분류하는 CNN 모델 만들기)
논문
반도체 제조공정의 불균형 데이터셋에 대한 웨이퍼 불량 식별을 위한 심층 컨볼루션 신경망
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번역본 https://gitea.pinblog.codes/attachments/9b2424f7-7e7d-4ad1-a368-86a523d67504
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원본 https://gitea.pinblog.codes/attachments/9a31bb80-bc0a-4d5a-83b1-4ef0557456ad
Dataset
수행방법
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위 논문을 참고하여 CNN 모델을 구현하고, WDI Dataset을 학습하여 9개의 클래스로 분류한다. (Center, Donut, Edge-Loc, Edge-Ring, Loc, Near-full, none, Random, Scratch)
https://gitea.pinblog.codes/CBNU/03_WDI_CNN/releases/tag/info
평가방법
- 모델의 성능지표(Precision, Recall, Accuracy, F1-Score)를 혼동행렬(Confusion Metrix)로 구현한다.